偏光顯微鏡常用于觀察巖相、纖維、晶體材料等具體雙折射特性的樣品。

貝瑞克補(bǔ)償器可以精確測(cè)定雙折射材料的?光程差。

Berek補(bǔ)償器的工作原理基于光的偏振現(xiàn)象。 當(dāng)光通過一個(gè)單軸晶體時(shí)，會(huì)分裂為兩個(gè)偏振方向的光，這兩個(gè)光的相位差可以通過改變晶體的厚度來調(diào)節(jié)