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LW400JT

LW400JT


芯片檢查顯微鏡
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儀器用途:

LW400JT適用于硅、砷化鎵、磷化銦等基片6″8″盤的生產(chǎn)工藝檢查;也可以適用其它需較大面積標本的工藝檢查。

性能特點

1、 配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)。

2、配置移動載物臺

3、粗微動同軸調(diào)焦機構(gòu),粗動松緊可調(diào),帶鎖緊和限位裝置,微動格值:2μm。

4、6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。

5、三目鏡筒,可切換正常觀察與偏光觀察,可進行100%透光攝影。


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