麻豆精品三级国产国语-男女在线视频观看免费-日韩精品人妻一区二区三区四区-午夜男女乱淫真人视频

LW400JT

LW400JT


芯片檢查顯微鏡
分享到:

儀器用途:

LW400JT適用于硅、砷化鎵、磷化銦等基片6″8″盤的生產(chǎn)工藝檢查;也可以適用其它需較大面積標(biāo)本的工藝檢查。

性能特點(diǎn)

1、 配置大視野目鏡和長距平場(chǎng)消色差物鏡(無蓋玻片)。

2、配置移動(dòng)載物臺(tái)

3、粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu),粗動(dòng)松緊可調(diào),帶鎖緊和限位裝置,微動(dòng)格值:2μm。

4、6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)。

5、三目鏡筒,可切換正常觀察與偏光觀察,可進(jìn)行100%透光攝影。


上一個(gè): LWM300LMDT
下一個(gè): LWD200-4XC